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标题: 4.1 halcon 缺陷检测基础概念 [打印本页]
作者: qq263946146 时间: 2019-3-23 18:00
标题: 4.1 halcon 缺陷检测基础概念
表面缺陷检测在工业 视觉领域非常常见，包括物品表面划伤，缺损，污垢，变形等各种各样的缺陷，
这些对于 工业 产品来说都是不合格的。
采用传统人工方式检查非常耗费人力物力。也容易让人视觉疲劳以及误判。
采用机器 视觉的方式 可以提高 检测 效率，长时间连续工作。
对于 表面缺陷我们常用 的检测 思路 有blob分析方法，频域空间域配合检测法，纹理 blob分析 配合检测法，光度立体 法等。
在工业视觉检测中，光源的选择和打光角度也很重要，有些缺陷的对比度和和光源，镜头，相机都有关联。
如果对比度比较好，可以降低后续图像处理难度 ，
采用blob分析进行缺陷 检测，其实就是二值化，形态学，特征检测几种方法反复来回的调用处理图片，最终得到缺陷区域。
缺陷种类五花八门，有划痕，污点，凹陷等等，不同的缺陷并没有固定的图像 处理算法流程，
要根据不同的缺陷情况，在不同的光源照度下进行对应算法 的识别检测。
Halcon中，对于表面缺陷检测主要有三个思路。
第一思路 是基于blob分析方法进行缺陷检测，就是利用二值化，形状特征选择，形态学联合应用，
再加上图像区域加减运算，表叔 逼近缺陷区域 ，最终得到缺陷并显示出来。
Blob分析 是最常用最灵活的方法，可以采用不同顺序，加上其他算法的结合，达到比较好的缺陷效果。
第二个思路是光度 立体法，此方法归类于三维视觉，我们学习视觉从一维二维开始。
第三个思路是基于频域与空间域结合的方法进行缺陷 检测，频域与空间域结合的方式在halcon中有很多缺陷 检测实际的例子。
此方法主要就是在频域里进行滤波，选择不同的频域，然后再回到空间域处理，从而得到缺陷所在区域。
什么是频域？
从我们出生，我们看到的世界都以时间贯穿，股票的走势、你儿子的身高、你汽车的轨迹都会随着时间发生改变。
这种以时间作为参照来观察动态世界的方法我们称其为时域分析。
而我们也想当然的认为，世间万物都在随着时间不停的改变，并且永远不会静止下来。
但如果用另一种方法来观察世界的话，你会发现世界是永恒不变的，这个静止的世界就叫做频域。
先举一个公式上并非很恰当，但意义上再贴切不过的例子：
在你的理解中，一段音乐是什么？
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